我司增加白光干涉量测膜厚及台阶高度差功能

编辑：管理员   浏览：  日期：2014-11-18

2014年7月我司增加白光干涉量测膜厚及台阶高度差功能，为国内首创，代表仪器WX5A(MTM-3020MA) 。高倍率影像测量，配尼康金相显微镜实现明场、暗场、偏光和DIC导电粒子观察，代表仪器WX6(MTM-5040M) ；全自动大行程测量型金相显微镜，代表仪器WX7(MTM-6090H)

上一篇：我司自主研发生产可支持2D及3D测量之微米级金相显微镜

下一篇：我司获得广东面板大厂一次性订购超过50台影像仪

打印本页 | 关闭窗口